GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验 第1部分:总则
- 文件大小：152KB
- 标准类型：国家标准
- 标准语言：简体中文
- 授权形式：免费标准
- 文件类型：PDF格式
- 安全检测：瑞星、江民、卡巴、可牛：安全
- 更新时间：2015-10-11
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- 标签：半导体器件
资料介绍
标准编号：GB/T 4937.1-2006
简体名称：半导体器件 机械和气候试验 第1部分:总则
繁体名称：半導體器件 機械和氣候試驗 第1部分:總則
英文名称：Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 1: General
标准简介：
本部分代替GB/T 4937-1995《半导体器件 机械和气候试验方法》第Ⅰ篇总则。本部分适用于半导体器件（分立器件和集成电路）并为GB/T 4937系列的其他部分建立通用准则。