JIS B0091-2010 光学元件和光学系统的干涉测量.表面形式和波阵
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- 更新时间:2015-10-10
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资料介绍
标 准 编 号:JIS B0091-2010简体中文标题:光学元件和光学系统的干涉测量.表面形式和波阵面变形公差的术语和定义繁體中文標題:光學元件和光學系統的幹涉測量.表面形式和波陣面變形公差的術語和定義English Name:Interferometric measurement of optical elements and systems -- Terms and definitions of surface form and wavefront deformation tolerances