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JIS B0091-2010 光学元件和光学系统的干涉测量.表面形式和波阵

  • 文件大小:5MB
  • 标准类型:国外标准
  • 标准语言:日文标准
  • 授权形式:免费标准
  • 文件类型:PDF格式
  • 安全检测:瑞星、江民、卡巴、可牛:安全
  • 更新时间:2015-10-10
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资料介绍

标 准 编 号:JIS B0091-2010简体中文标题:光学元件和光学系统的干涉测量.表面形式和波阵面变形公差的术语和定义繁體中文標題:光學元件和光學系統的幹涉測量.表面形式和波陣面變形公差的術語和定義English Name:Interferometric measurement of optical elements and systems -- Terms and definitions of surface form and wavefront deformation tolerances

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